失效分析

Failure analysis
首页检测服务失效分析

TXZ Lid Isolator ——红色印迹

失效现象

  • 陶瓷环边表面出现红色印迹;

分析方法

  • 对正常部位和红色印迹部位表面进行擦拭取样,对提取物进行ICP-MS分析。

结论:通过ICP-MS分析结果发现,打磨过程中金属打磨台引入Fe元素。进一步后续高温烘烤中,Fe发生氧化生成Fe2O3,导致表面出现红色印迹。

版权所有 © Copyright 2024 沪ICP备2024079632号 上海微纳精迅检测技术有限公司