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扫描电镜&能谱分析

  • 仪器型号:

    Hitachi TM4000 Plus Axia ChemiSEM

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  • 应用范围
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  • 预处理方法
  • 应用文献

仪器型号

应用范围

  • 异物成分、形貌
  • 气体金属管路
  • 涂层孔隙率
  • 颗粒计数及成分

适用样品

  • 固体样品:如金属、陶瓷、聚合物材料等

预处理方法

  • 直接观察法
  • 间接取样法
  • 切割
  • 镶嵌
  • 磨抛

技术能力

  • 可观测区域直径<122mm
  • 分析元素检测范围:Be之后
  • 最小分辨率:3nm(30KV下)

参考标准(部分)

  • JY/T 010-1996、ASTM E2109、SEMI F19、SEMI F37、SEMI F73、SEMI F60

应用文献

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