半导体零部件检测

Component inspection
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  • 仪器型号:

    FEI Theims Z,Titan Cubed Themis G2300,JEM-ARM200F

  • 预约次数:

    2次

  • 样品类型
  • 检测项目
  • 采样方式
  • 检测仪器

样品类型

检测项目

  • 元素
  • 离子
  • 其他

采样方式

  • 表面棉签擦拭
  • 整体内腔浸泡
  • 局部内腔浸泡
  • 表面液体萃取

检测仪器

  • ICP-MS
  • IC

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