失效分析

Failure analysis
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RF Gasket——黑色印迹

失效现象

  • 螺旋型合金Gasket在等离子刻蚀腔体内运行一段时间后,表面出现电弧黑色印迹,表面电阻急剧增大。

分析方法

  • 切取失效样品中的电弧黑色印迹部位和正常样品中的光亮无印迹部位,分别制备表面样品,进行SEM-EDX分析和XPS分析,获取样品表面和深层的元素分布信息。

图 SEM-EDX 分析

通过SEM-EDX分析结果来看:两样品中均有部分氧化和氟化,在表面生成氧化物和氟化物。

图 XPS分析

通过XPS的进一步分析含O和F等离子腐蚀在表层生成氧化物和氟化物,导致电阻增大,从而产生黑色电弧印迹

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